Рентгеновский дифрактометр с высоким разрешением HAOYUAN DX-2800 предназначен для углубленного изучения структуры материала. Благодаря высокоточному измерению угла дифракции, особенностям конструкции и разработанному ПО возможны надежная оценка фазового состава в образце, его особенностей, оценка напряжений, структурный анализ и многое другое.

Для получения наиболее точного дифракционного спектра за относительно короткий период времени дифрактометр DX-2800 оснащен источником рентгеновского излучения высокой стабильности и высокопроизводительным счетчиком. Измерение угла дифракции осуществляется при использовании абсолютной инкрементной решетки (3,6 млн линий), за счет чего минимизировано влияние других компонентов системы и обеспечивается высокая точность оценки пиков в течение всего срока службы. Благодаря этому, угловое отклонение всех пиков в полном спектре международного стандартного образца (Si, Al2O3) не превышает ± 0,002 градуса.

Спектры рентгеновской дифракции предоставляют исследователям важную информацию о кристаллической структуре различных фаз в образце. Эта информация включает в себя константы решетки, типы решеток, замены элементов решетки атомами другого вида, размер зерна, неравномерное распределение напряжений и многое другое.